DFT笔记39

5 LOGIC BUILT-IN SELF-TESTLogic built-in self-test (BIST)的概念是一种design for testability (DFT) technique用这种方法中on a chip, board, or system的电路可以自己检测自己的数字逻辑。LBIST的应用场景aerospace/defense, automotive, banking, computer, healthcare, networking, and telecommunications industries分成两大类事关生命的事关重要任务的两大作用提高整体系统的可靠性提高远程诊断能力这一章的主要内容首先介绍LBIST的基本概念聚焦于LBIST的两大技术test pattern generation techniques包括exhaustive testingpseudo-random testingpseudo-exhaustive testingoutput response analysis techniques包括ones count testingtransition count testingsignature analysis讲各种各样的时序控制图这对于以下两种测试都非常重要slow-speed testingof structural faults比如stuck-at faults、bridging faultsat-speed testingof timing-related delay faultspath-delay faults、transition faults有一些特定的LBIST的技术架构和对应的方法是为了进一步提升电路的测试覆盖率比如最常用的STUMPS架构。这一章的主要目的就是让读者自己能设计一个LBIST的系统包括test pattern generatoroutput response analyzerlogic BIST controller所以这一章的最后有一个设计的实际案例包括了所有的涉及到logic BIST system design、verify its correctness和improve its fault coverage的步骤听着很诱人~5.1 INTRODUCTION随着电路规模越来越大传统的ATPG会非常贵而且不能达到很高的测试覆盖率。一个有效的方法就是LBIST直接将测试这个动作集成到芯片内部或者板子上芯片旁边的地方。LBIST的通用框架图如下LBIST去testing random logic有两个通用的大类online BIST是指functional circuitry is innormal operational mode又细分两个模式concurrently并行在芯片进行正常功能运行的时候测试当发现间歇性或者暂时性地错误时会在这一点对错误进行纠正然后返回到之前存储的状态再重复操作当发现重复fail的情况会产生一个打断信号nonconcurrently非并行当电路在idle mode时测试测试可以随时中断以便电路能够恢复正常运行offline BIST是指functional circuitry isnot in normal mode这样的方式不能检查实时的错误但是在业界被广泛使用at the system, board, or chip level可以保证产品的质量。Functional offline BIST基于功能特性测试通常会以诊断软件和硬件的方式实现Structural offline BIST又细分external BISTtest pattern generation和output response analysis两者与functional circuitry是分开的internal BIST会将functional storage elements转化为test pattern generators 和output response analyzers